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陶瓷电容失效的内外原因分析

文章出处:行业资讯 责任编辑:willer 发表时间:2021-06-02
  ​烧结裂纹烧结裂纹通常起源于一端电极并垂直扩展。主要原因与烧结过程中的冷却速度有关,裂纹和危害类似于空洞。具有机械应力裂纹的多层陶瓷电容器具有承受较大压应力的特点,但抗弯性能较差。在设备组装过程中,任何可能产生弯曲变形的操作都可能导致设备开裂。这种裂纹一般起源于器件的上下金属化端,在45℃时扩展到器件内部。这种缺陷也是常见的缺陷。

点火轨迹通常从一端的电极开始,垂直传播。主要原因与烧结过程中的冷却速度有关,裂纹和危害类似于空洞。

层状(层状)多层陶瓷电容器的烧结是多层材料的叠加共烧,烧结温度可达1000℃。在烧结过程中,层间附着力不强,内部污染物蒸发,烧结工艺不合理,容易发生分层。分层、空洞和裂纹的危害类似于空洞和裂纹,是多层陶瓷电容器的一个重要内部缺陷。

温度冲击裂纹主要是由焊接设备的温度冲击引起的,尤其是在波焊中,不合理的修复也是温度冲击裂纹的重要原因。

两个。机械应力FlexCrack多层陶瓷电容器具有承受较大压应力的特点,但抗弯性能较差。在设备组装过程中,任何可能产生弯曲变形的操作都可能导致设备开裂。常见的应力来源包括:贴片对齐、工艺电路板操作、人员、设备周期工艺、重力等因素;通孔元件插入;电路测试,单板分段;电路板安装;电路板定位和铆接;螺丝安装等。这种裂纹一般起源于器件的上下金属化端,在45℃时扩展到器件内部。这种缺陷也是常见的缺陷。